ICP-2060T介紹（化學法）
ICP-2060T電感耦合等離子體發射光譜儀，具有優異的分辨率、測試準確度與度，廣泛應用于鐵合金、稀土工業、礦石分析、金屬冶煉、地質研究、環境檢測等行業，可測試元素達70余種，在各個行業中都有著許多成功的應用案例。
應用領域：工業硅，硅煤，硅石，石英石，石油焦，硅鐵，硅錳等產品中微量元素含量的測定。
測試元素種類：鐵，鋁，鈣，磷，硼，鈦，鎂，鉻，錳，釩，鎳，銅，鉀，鈉，鈷，鉛，鋅等微量元素。
參照國家標準：GBT 14849.4-2014工業硅化學分析方法第4部分:雜質元素含量的測定電感耦合等離子體發射光譜法。
WDX-200介紹（固體粉末壓片法）
WDX200波長色散X熒光光譜儀用于工業硅中雜質元素的檢測，從制樣到出結果只需幾分鐘（粉碎、壓片、測試），操作簡單，對使用人員要求不高，檢測速度遠遠優于化學分析方法，無需任何化學試劑。    
方法提要：測試速度快，不需要化學試劑。
樣品上振磨機振磨至試樣能通過0.074mm標準篩（200目），用墊襯劑墊底包邊或置于壓環內放入壓片機，壓力在40t，保壓時間30s。卸壓后取出樣片，吹去表面雜質（樣片厚度應不小于4mm）后放入儀器進行測定。
儀器和材料
1.波長色散型 X 射線熒光光譜儀
2.振磨機(含碳化鎢磨盤)。
3.壓片機(含壓環).可提供40 t 壓力
4.電子天平:感量為 0.1 g
5.粘結劑:硼酸或淀粉(分析純)
6.墊襯劑:硼酸(工業純)
7.三乙醇胺(分析純)
測試元素種類：鐵，鋁，鈣，鈦，鎂，鉻，錳，釩，鎳，銅等微量元素。
參照國家標準：GBT 14849.4-2014工業硅化學分析方法第 5 部分:雜質元素含量的測定X 射線熒光光譜法。
CS-188高頻紅外碳硫分析儀介紹
根據國標GB/T 14849.6-2014本部分規定了工業硅中碳含量的測定方法，測定范圍：0.010%-0.50%。 
方法提要
     試樣于高頻感應爐的氧氣流中高溫燃燒，其中的碳雜質轉化發二氧化碳氣體，由氧氣載至紅外檢測器的測量室 ,檢測吸收特定波長的紅外光強度，其吸收強度與二氧化碳濃度成正比，根據檢測器接受光強度的變化測得碳含量。
試劑和材料
1.氧氣,純度 99.995%。 
2.助熔劑(質量比，鎢:錫:鐵=1.5:0.15:0.3),含碳量小于0.001%，粒度0.5mm~1.0mm。 
3.標準樣品:有證系列國家標準樣品(碳含量為0.010%~0.50%)。
4.坩堝:碳硫分析專用,預先于1100℃的高溫馬弗地中灼燒4H,冷卻后放置于干燥器中備用。
5.坩堝鉗。
儀器
1 高頻紅外碳硫分析儀。
2 分析天平，精度為0.0001g。
3 馬弗爐,額定溫度不小于1200℃。
測試
準備好儀器、試劑和材料后，按照國標GB/T 14849.6-2014中推薦的測試方案及步驟，就可以很好的測定出工業硅中碳的含量。