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用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。天瑞儀器thick8000金屬鍍層分析儀是款的產品，得到了廣泛應用和認可。 金（Au）銀（Ag）錫（Sn）銅（Cu）鎳（Ni）鉻（Cr）等金屬厚度，金Au銀Ag錫Sn銅Cu鎳Ni鉻Cr等金屬厚度，天瑞測厚儀，天瑞儀器Thick8000膜厚儀鍍層金屬分析儀貴金屬成分分析

天瑞儀器鍍層測厚儀
天瑞鍍層膜厚儀8000性能特點 金（Au）銀（Ag）錫（Sn）銅（Cu）鎳（Ni）鉻（Cr）等金屬厚度，金Au銀Ag錫Sn銅Cu鎳Ni鉻Cr等金屬厚度，天瑞測厚儀，天瑞儀器Thick8000膜厚儀鍍層金屬分析儀貴金屬成分分析

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點，重復定位度小于0.005mm
采用度定位激光，可自動定位測試度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口度敏感性傳感器保護

天瑞鍍層膜厚儀Thick 8000術標 金（Au）銀（Ag）錫（Sn）銅（Cu）鎳（Ni）鉻（Cr）等金屬厚度，金Au銀Ag錫Sn銅Cu鎳Ni鉻Cr等金屬厚度，天瑞測厚儀，天瑞儀器Thick8000膜厚儀鍍層金屬分析儀貴金屬成分分析

型號：Thick 8000
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）
意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

天瑞鍍層膜厚儀Thick 8000 標準配置

開放式樣品腔。
二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
低壓電源。
X光管。
度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

天瑞鍍層膜厚儀Thick 8000 應用域

，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加和飾加行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

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