X光測古董年份，識別真假儀器介紹

我司研制生產的EDX3600L型的儀器，利用歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na_{2、MgO、Al2、CaO、Fe2、K2、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司特意根據行業需要制作型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
EDX3600L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到機多用，是古文物檢測備的科學檢測儀器。歷史博物館、收藏家協會等古文物收藏門都是其用戶OO3O3}O。

應用案例

近兩年，由于河南汝窯遺址的發現，文物市場上時間汝窯瓷器泛濫，各種形制、顏色的汝窯器著實讓人眼花繚亂。在使用X射線熒光能譜儀對其瓷釉表面成分行無損分析的過程中粗略統計了下，民間收藏的待測品九成以上都是假貨，其中大多數瓷釉成分中含有現代瓷釉制的添加劑，而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現的成分，用能譜儀檢測此類器物可謂是輕而易舉、手到擒來。我們知道大多數瓷釉的基本組分是由十種元素即：鈉、鎂、鋁、硅、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構成，不同時代、窯口燒的瓷釉其組成成分的配比是有區別的，正因如此，我們可對大量經科學考古發掘的有確定年代和出土地點依據的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數值分布范圍，將受鑒定樣品的成分配比與相應時代的參考片成分行比對，據此判斷被檢樣品在成分構成上的可靠性，實踐證明，當前文物市場中周轉的陶瓷器文物，有半數以上成分配比與古瓷片有較大差距，另有相當分含有古代瓷器瓷釉中所沒有的組成成分，如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現代瓷釉添加劑，對于這類贗品瓷器，通過成分檢測可以非常容易的認定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅等。

X光測古董年份，識別真假

參數規格

1.元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)；

2.元素測試范圍為 PPM到99.99%；

3.測量時間：60-400秒；

4.測試度：0.05%（含量大于96%的樣品）；

5.多次測量重復性可達0.1％（總熒光強度）；

6.長期作穩定性為0.1％；（總熒光強度）

產品配置

1. 超薄窗大面積的原裝口SDD探測器
2. 內置信噪比增強器可有效提儀器信號處理能力25倍
3. 可自動切換型準直器和濾光片
4. 光路增強系統
5. 內置清晰攝像頭
6. 加強的金屬元素感度分析器
7. 智能元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
8. 面光源
9. 放大電路
10. 低壓電源
11. X光管
12. 多變量非線性回歸程序
13. 相互的基體效應校正模型。
14. 三重安保護模式
15. 外觀尺寸： 800×710×1360 mm
16. 樣品腔尺寸：600×600×1000mm

X光測古董年份，識別真假

儀器：

1. 使用超薄窗大面積的原裝口SDD探測器，探測器分辯率達到139ev，各項標優于標準。

2. 立式柜機設計，大方，內空間大，具有散熱更快的特點，有效的延長設備使用壽命。

3. 專業化的樣品腔設計，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

4. 采用研發的數字多道術，其線性計數率可達100KCPS。

5. 設備可以在大氣、真空環境下對樣品行檢測，便于應對各種測試環境。

6. 四組準直器，6組濾光片可以自動切換。

7. 帶有清攝像頭能，便于查看樣品的測試位置以及被測試面的變化。

8. 儀器接縫采用密封條，防水防塵，可在溫濕環境下連續使用，有良好的防潮防震防壓三防能。

9. 專業軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制很小的特點。

10. 具有多種測試模式設置和數目模式的自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品成的偏差。

11. 自動化的程度，具有自動切換準直器與濾光片等能。

12. 新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件相結合的方法，應用面更加廣大。

13. 研發的光路系統，光程更短，光路損失更少，激發效果更佳。

14. 三重安防護能，自動感應，沒有樣品時儀器不作，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安罩。

15. 警告示系統，通電時綠色示燈亮，測試時黃色輻射示燈閃爍，防止誤操作。

16. 帶有攝像頭能，可以隨時查看被測樣品的狀態。

應用域

古陶瓷；
古青銅器；
古飾；