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Sonatest veo超聲波相控陣/TOFD探傷儀

大功率與高性能的組合

Veo相控陣超聲波探傷儀提升了Sonatest公司在創(chuàng)新技術(shù)產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域的聲譽(yù)。Veo 操作簡單、高性能、功能。機(jī)殼帶有防滑條紋，技術(shù)人員可以用手指觸摸操作，操作簡單、易用、可靠。

超聲波相控陣技術(shù)已經(jīng)成為無損檢測(cè)應(yīng)用的一種固定方法。相控陣技術(shù)允許使用者控制例如聲束角度和焦距等參數(shù)，生成檢測(cè)部件的圖像，提高缺陷檢出能力并提高了檢測(cè)速度。此外，新的計(jì)算機(jī)技術(shù)可以處理并永遠(yuǎn)保存檢測(cè)記錄。Veo堅(jiān)固的設(shè)計(jì)，直觀的用戶界面和廣泛的在線幫助功能給有相控陣基礎(chǔ)的技術(shù)人員帶來了方便。典型應(yīng)用包括焊縫檢測(cè)、腐蝕檢測(cè)、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測(cè)。

簡單易用

采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程，使設(shè)置和操作很快會(huì)變成習(xí)慣。有完整的幫助菜單和向?qū)Р僮鳎瑫?huì)讓使用者通過掃描同時(shí)優(yōu)化，確保veo永遠(yuǎn)處于zui高水平。獨(dú)特的3D掃描查看模式提供了正確設(shè)置，超聲波覆蓋情況可通過直接的視覺確認(rèn)，甚至在復(fù)雜的多探頭應(yīng)用中也可實(shí)現(xiàn)。

聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速向?qū)В鳛闃?biāo)準(zhǔn)提供。校準(zhǔn)狀態(tài)通過一個(gè)簡單的轉(zhuǎn)換系統(tǒng)清晰的顯示在屏幕上，veo是否已校準(zhǔn)用于檢測(cè)任務(wù)，操作者可一目了然。

菜單切換采用了Sonatest的第二代卷軸式導(dǎo)航技術(shù)，可快速的進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，大多數(shù)使用功能和文字?jǐn)?shù)字輸入均有快捷鍵。常用的開始、停止和記錄鍵可在設(shè)置、采集和記錄模式中快速切換。

強(qiáng)大的veo平臺(tái)使便攜式儀器提升到了一個(gè)新的水平，幫助您在現(xiàn)場將效率達(dá)到zui高。探頭在工件上所處的位置信息可以2D和3D模式顯示，使檢測(cè)設(shè)置簡單化并提供一個(gè)檢測(cè)報(bào)告參考。所有聚焦規(guī)則的調(diào)整都是實(shí)時(shí)的，角度分辨率可達(dá)0.1°, 1024聚焦規(guī)則不丟失性能。不同探頭的多重掃描可以同時(shí)顯示和評(píng)價(jià)。Veo支持多重扇形掃描、頂部、邊部和端視圖選取C掃描。TOFD和相控陣檢測(cè)可以在全速掃描下一前一后進(jìn)行，高達(dá)2G的數(shù)據(jù)文件可更的進(jìn)行大面積檢測(cè)。全波數(shù)據(jù)可直接保存在U盤中方便備份和傳輸至PC機(jī)。

Veo有兩個(gè)專用通道用于常規(guī)的超聲波檢測(cè)。基于Sonatest公司的Masterscan系列超聲波探傷儀，該通道有400V脈沖發(fā)生器，時(shí)間校正增益和低噪聲放大器，適用于大多數(shù)苛刻的應(yīng)用。

出色的硬件指標(biāo)通過全16位高速結(jié)構(gòu)和12位ADC技術(shù)基于濾波和提高圖像解析度進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)數(shù)字信號(hào)處理，為使用者提供了高質(zhì)量的超聲波數(shù)據(jù)。

測(cè)量和尺寸指示可以通過例如TOFD雙曲線指針和2D曲線峰值信號(hào)測(cè)量等測(cè)量工具的使用來快速完成。可以快速在本機(jī)上生成報(bào)告，并以PDF格式保存到U盤上。

對(duì)任何探傷儀來說顯示部分都是一個(gè)重要的部件。Sonatest veo配有彩色TFT液晶顯示屏，在任何條件下都具有高可見度，在任何檢測(cè)狀態(tài)下都具有zui高的顯示尺寸比率。

多重掃描

Veo可以快速設(shè)置為顯示一個(gè)大范圍的多重掃描視圖。這允許使用者選擇一個(gè)重要的檢測(cè)視圖，并獲得的顯示效果。扇形掃描、頂部、邊部和端視圖都可以結(jié)合多重A掃描視圖和TOFD。指針和標(biāo)尺可用于在視圖中識(shí)別軌跡，實(shí)時(shí)測(cè)量工具可顯示尺寸和注釋。

TOFD

Veo有一個(gè)專門的模擬結(jié)構(gòu)用于TOFD檢測(cè)，采用的模擬濾波器升級(jí)自Sonatest的探傷儀。加上低噪聲的放大器，高速數(shù)據(jù)采集和高清晰度顯示，高品質(zhì)的TOFD掃描可以與相控陣同時(shí)查看。在焊縫檢測(cè)時(shí)，相控陣和TOFD檢測(cè)可以一起評(píng)價(jià)以提高可信度。內(nèi)置的評(píng)價(jià)工具可以快速和準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)TOFD檢測(cè)，并可以包含在檢測(cè)報(bào)告中。

可靠

耐用和經(jīng)得起考驗(yàn)的可靠性是使用NDT設(shè)備的基本要求。故障停機(jī)的損失是高昂的，應(yīng)將其zui小化，以確保zui高的生產(chǎn)效率。Sonatest憑借產(chǎn)品的防滑結(jié)構(gòu)和高質(zhì)量產(chǎn)品的良好聲譽(yù)已為工業(yè)領(lǐng)域服務(wù)超過50年。Veo的設(shè)計(jì)在強(qiáng)度、防震、內(nèi)部框架等方面都滿足了苛刻的標(biāo)準(zhǔn)，裝有碰撞緩沖框架，達(dá)到IP65密封標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)計(jì)集成了很多功能，使現(xiàn)場工作更加方便，veo可以用標(biāo)準(zhǔn)的相機(jī)支架在下方固定，在背面有四個(gè)支撐點(diǎn)可用于三角架和其他裝備附件。此外，veo配有四個(gè)D型環(huán)和四點(diǎn)肩背帶，使操作者易于移動(dòng)并可以將雙手解放用于掃描。Veo采用熱插拔雙電池設(shè)計(jì)，可以節(jié)省時(shí)間并提高實(shí)戰(zhàn)可靠性。

UT Studio

UT Studio是基于計(jì)算機(jī)的相控陣分析和生成報(bào)告的軟件包。記錄的veo數(shù)據(jù)文件可以很容易的通過U盤傳輸，并用于生成新的視窗和影像。采用常見的窗口拖拽界面，使用者可以簡單的將veo數(shù)據(jù)文件拖拽到顯示模板中以創(chuàng)建多個(gè)視窗，例如頂部、尾部和B掃描等。

強(qiáng)大的測(cè)量指針和抽取器用于識(shí)別軌跡、尺寸和標(biāo)注缺陷。容易生成報(bào)告，并以PDF格式輸出。

3D掃描圖

Veo掃描支持多探頭和多重掃描，可從許多來源快速有效的設(shè)置檢測(cè)計(jì)劃。可從一定范圍的幾何學(xué)焊縫中選擇，并可顯示出你已選擇用于檢測(cè)工件的探頭。多重跳轉(zhuǎn)路徑顯示在3D掃描圖上，使用者可確保完全覆蓋焊縫檢測(cè)。有簡單的參考點(diǎn)指示，可以快速確定探頭在工件上所處的位置。混合型探頭支持脈沖回波和傾斜和捕獲：相控陣；TOFD或常規(guī)超聲波檢測(cè)。掃描計(jì)劃對(duì)于你的檢測(cè)報(bào)告是一個(gè)無價(jià)的參考，檢測(cè)結(jié)果的傳輸會(huì)更加清晰，儲(chǔ)存是檢測(cè)的一部分以備將來使用。

A掃描

Veo支持傳統(tǒng)的用單晶探頭的超聲波檢測(cè)。高解析度的LCD和快速的圖形重現(xiàn)，確保高的精度水平和快速的交互式波形顯示。由于高分辨率的LCD顯示，測(cè)量清晰易讀，寬屏幕模式提供了巨大的掃描視窗區(qū)域。A掃描顯示確保峰值信號(hào)始終顯示，因此你永遠(yuǎn)不會(huì)錯(cuò)過任何一個(gè)缺陷。

Veo 套裝和附件