華測(cè)高溫低電阻測(cè)試儀 多晶硅材料石墨烯材料 ，采用芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓配置不同的測(cè)試治具可以實(shí)現(xiàn)不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。

幾大系列：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。

我們深信未來是一個(gè)加智慧的世界，華測(cè)公司與合作伙伴一起，努力研發(fā)加高效的檢測(cè)系統(tǒng)以工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備，推動(dòng)中國(guó)新材料時(shí)代發(fā)展的進(jìn)程，推動(dòng)世界的進(jìn)步，并堅(jiān)信世界因我們而不同。

高溫低電阻測(cè)試儀

公司開發(fā)的高溫低電阻測(cè)試系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具與keithley（吉時(shí)利）系列、2400、2450、2600系列源表測(cè)量設(shè)備連接。

HGTZ-900高溫低電阻測(cè)試儀器采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓配置不同的測(cè)試治具可以實(shí)現(xiàn)不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
   目前高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，這種方式也易存在感應(yīng)電流，無法實(shí)現(xiàn)溫度精度高要求的測(cè)量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，本設(shè)備在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。 可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻 ，用石英管保護(hù)加熱式樣，無氣氛污染。可在高真空，高出純度氣體中加熱 。大大提升精度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
   HGTZ-900系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，實(shí)現(xiàn)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

1、高速加熱與冷卻方式：高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)較快速的冷卻。

2、溫度控制：過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在大部分溫度下可提供高的精度。

3、不同環(huán)境的加熱與冷卻：加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。

功能特點(diǎn)：

█   多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試；
█  采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提升測(cè)試精度；
█  可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率；
█  可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測(cè)量功能;
█  溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制，使測(cè)量溫度比較可靠；
█  儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pv；
█  10寸觸摸屏設(shè)計(jì)，一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu)，穩(wěn)定、可靠；

█  程控電子升壓技術(shù)，紋波更低、TVS防護(hù)系統(tǒng)，保證儀器安全性；

█  99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；

█  huace pro 控制分析軟件。

適用范圍

█多晶硅材料      
█ 石墨功能材料      
█ 導(dǎo)電功能薄膜材料

█ 導(dǎo)電玻璃（ito）材料

█ 其它導(dǎo)電材料等。

█ 石墨烯材料
█ 半導(dǎo)體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明導(dǎo)電薄膜。

整體為桌面型設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室無灰塵排放的要求。內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏，可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線，并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控制。定點(diǎn)控溫模式下，可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度。控溫加熱下，可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1小時(shí)。采用鉑銠熱電偶直接測(cè)定樣品附近溫度。

樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。配備真空泵，水冷設(shè)備，配備超溫、缺水、過流等報(bào)警保護(hù)裝置。

溫度均勻區(qū)：60mm*100mm。

硬件配置：

█集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
█ 集成打機(jī)印接口，可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
█支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢  

軟件功能：

測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合絕緣材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備較強(qiáng)的穩(wěn)定性與操作安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。支持新的標(biāo)準(zhǔn)，兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
█ 多語(yǔ)介面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；
█ 狀態(tài)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)瀏覽；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；

█ 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

█ 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：室溫-1000℃,(反射爐加溫)配水冷機(jī)；

控溫精度：±0.5℃；

測(cè)量精度：±0.25℃；
升溫斜率：20℃/min （可設(shè)定）
降溫斜率：1-200℃/min (可自調(diào)整）；
測(cè)量精度：0.5%；
樣品規(guī)格：直徑：20mm以內(nèi)；厚度：5mm以內(nèi)；

電極材料：鉑金;

測(cè)量方式：2線-4線測(cè)量方式；
測(cè)量范圍：0.1uΩ-100MΩ
供 電：220V±10%，50Hz；
工作環(huán)境：0℃ - 55℃；
存儲(chǔ)條件:- 40℃-70℃；
尺 寸：750mmX660mmX360mm；

重 量：25 kg

華測(cè)高溫低電阻測(cè)試儀 多晶硅材料石墨烯材料  
華測(cè)高溫低電阻測(cè)試儀 多晶硅材料石墨烯材料  
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