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產品詳情

產品簡介
31WII光柵攝譜儀 二米平面光柵攝譜儀二手閑置,存貨不多,數量有限,售完即止。二手上光31WII光柵攝譜儀 二米平面光柵攝譜儀質量...
產品詳細介紹
31WII光柵攝譜儀 二米平面光柵攝譜儀
二手閑置,存貨不多,數量有限,售完即止。
二手上光31WII光柵攝譜儀 二米平面光柵攝譜儀質量保證
產品型號: 31WII 光柵攝譜儀 二米平面光柵攝譜儀
生產廠商: 國產 上光
主要技術指標
狹縫寬度范圍: 0~0.3 毫米
狹縫寬度分度值: 0.001 毫米
狹縫寬度再現性: 0.001 毫米
狹縫有效高度: 10 毫米
外行尺寸: 24001500700 毫米立方
重量:約 150 公斤
儀器特點和應用范圍
譜面平直在 240 毫米譜板內譜線清晰。
三塊光柵可方便地互換使用(根據配備光柵選擇合適的色散和靈敏波段)。
有高清晰靈敏度。
使用操作過程(對光、預燃、曝光,板移)自動控制。
該儀器主要應用于金屬合金(包括礦物石)的日常定性定量分析,純金屬和材料的什質鑒定(包括純烯土元素分析)。還可以應用于對混合烯土材料的直接分析,對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析。
主要技術指標
狹縫寬度范圍: 0~0.3 毫米
狹縫寬度分度值: 0.001 毫米
狹縫寬度再現性: 0.001 毫米
狹縫有效高度: 10 毫米
外行尺寸: 24001500700 毫米立方
重量:約 150 公斤
儀器特點和應用范圍
譜面平直在 240 毫米譜板內譜線清晰。
三塊光柵可方便地互換使用(根據配備光柵選擇合適的色散和靈敏波段)。
有高清晰靈敏度。
使用操作過程(對光、預燃、曝光,板移)自動控制。
該儀器主要應用于金屬合金(包括礦物石)的日常定性定量分析,純金屬和材料的什質鑒定(包括純烯土元素分析)。還可以應用于對混合烯土材料的直接分析,對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析。
注:產品照片為實物拍攝,供參考;本公司保留對產品進行改進提高的權利,屆時恕不另行通知客戶;本產品配置以及實際運費以裝箱清單及貨運距離為準。包裝箱為定制實木結構,故在安全性上有保障,但相應重量及運費要高一些,請各位理解。
如果您覺得“31WII二米平面光柵攝譜儀”描述資料不夠齊全,請聯系我們獲取詳細資料。(聯系時請告訴我從給覽網看到的,我們將給您最大優惠!)
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