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價格：電議
所在地：山東 濟南市
型號：Winner99E
更新時間：2020-05-08
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公司地址：山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東二單元
張經理(女士) 市場部
"中國顆粒測試技術的領航者"、“中國顆粒測試第一股”------濟南微納顆粒儀器股份有限公司是集研發、生產、銷售顆粒測試相關儀器設備于一體的高新技術企業（證券名稱：“微納顆粒”，證券代碼：“430410”）。公司創始人自1985年承擔國家七五科技攻關項目開始，專業研究激光粒度測試技術及顆粒圖像技術至今已有近30年的歷史，技術深厚，產品質量過硬。
濟南微納一直以“發展與普及當代最先進的顆粒測試技術”為己任，研制的濕法、干法、醫用噴霧、工業噴霧等系列的激光粒度測試設備，均代表了國內同行業的最高水平，并于2006年推出代表世界先進水平的在線激光粒度測試儀，2007年推出國內第一臺動態顆粒圖像分析儀，2009年推出國內第一臺動態光散射原理的光相關納米粒度儀，將中國顆粒測試技術推向了一個全新的高度。目前，以激光粒度儀為代表的“微納品牌”顆粒測試系列儀器已有七大類三十多款產品，滿足了不同層次用戶的新產品開發及產品質量控制的需求。
濟南微納公司以高校為依托，培養了一流的技術開發團隊，90%以上的員工具有大學本科以上學歷，其中光學、電子、計算機、化工、材料各方面的專家、教授、博士、碩士研究生多名；公司的董事長兼首席專家-----任中京教授是濟南大學研究生導師，從事激光顆粒分析理論與技術研究工作30多年，理論基礎深厚、扎實。是我國激光粒度分析技術的開創者，在顆粒測試領域享有極高聲譽，并連任中國顆粒學會五屆常務理事，山東顆粒學會理事長等職位，被評為國家有突出貢獻的科學家稱號；微納公司還與國內許多大學、研究機構建立了良好的合作關系，廣泛進行新技術的交流合作及科研項目的研發，積累了雄厚的技術實力。
微納產品不但暢銷國內，還大量銷往海外，以其過硬的產品質量和雄厚的技術實力與優質的客戶服務獲得了社會及廣大用戶的好評。濟南微納獲得中國業內最具創新實力的企業、中國顆粒測試技術的領航者等榮譽稱號，被國際權威組織排入亞洲粉體企業50強。
公司網站：www.jnwinner.com。
全國免費服務咨詢熱線：4000-1919-82。
Winner99E顆粒圖像分析儀,顆粒圖像分析儀報價
Winner99E是新一代靜態顆粒圖像分析設備，它采用新的圖像采集系統與分析軟件，將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論結合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關顆粒大小和形狀的表征參數以特征值和分布的形式呈現出來，使用戶可以詳細的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結果更穩定，是顆粒粒度測試及粒形分析的搭檔和得力助手。
性能特點
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕，用戶可以直觀且了解顆粒的表面及形狀屬性；
拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數量更多，測試結果更具代表性；
自動分割粘連顆粒 采用更的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能，使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況，為后續處理的度奠定基礎；
自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結果的生成等全部過程，操作簡便且結果可靠；
技術參數
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型號 |
Winner99E |
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執行標準 |
ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 |
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顯微 系統 |
物鏡 |
4X、10、40、60、100（油）長距消色差（平場）物鏡組 |
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目鏡 |
1X、10、16X 大視野攝像目鏡 |
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載物臺 |
手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm， 移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調焦， 微動格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置 |
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光源 |
底部透射光源，鹵素燈和LED光可選,亮度可調。頂部金相落射式光源（帶起偏振器） |
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總放大倍數 |
4倍——1600倍 |
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攝像 系統 |
zui高分辨率 |
2048×1536 |
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像素尺寸 |
3.2μm×3.2μm |
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成像元件 |
1/2英寸CMOS |
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幀率 |
6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 |
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zui高清晰度 |
> 1000 line |
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信噪比 |
小于42dB |
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敏感度 |
1.0V@550nm/lux/S |
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輸出方式 |
USB2.0 |
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實際觀測范圍 |
1-6000μm |
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軟件功能 |
圖像采集 |
采集樣品形貌圖像，保存JPG格式 |
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圖像拼接 |
將多幅圖片進行無縫拼接,測試中能夠獲得更多的顆粒數量以提高測試的代表性。同時也可單張處理保存后再進行拼接，進一步提高了結果的準確性。 |
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圖像處理 |
提供灰度化，二值化（動態、自動、自適應方法），圖像消藍、平滑濾波、光照不均勻校正、邊界檢測、均衡化、圖像平滑、圖像收縮、圖像膨脹、消除飛點、消除空心、消除邊界黑點、消除粘連、手動標注、任意角度旋轉等算法操作 |
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顆粒的自動處理工具集 |
自動自適應二值化、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區域、自動平滑顆粒邊緣、自動消除顆粒粘連、自動獲取粒徑粒形參數等12項自動處理工具。 |
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球狀顆粒處理 |
針對球狀顆粒復雜粘連顆粒采用特有算法，可以直接求出樣品的粒徑參數和分布。 |
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比例尺標定 |
通過標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數值即可直接得到顆粒的實際大小數值。 |
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單個顆粒數據 |
可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、、粒徑、長徑比、球形度等10多項參數的分析顯示。 |
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任務管理機制 |
嚴格的任務管理機制，使用戶能夠將所有測試數據井井有條的管理起來。 |
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報告輸出 |
將測試結果輸出為報告，并可以自由修改報告樣式。 |
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報告 參數 |
特征參數 |
D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數 |
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頻率分布與累計分布 |
顆粒按數量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數據表、曲線圖、柱狀圖等。 |
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統計平均徑 |
Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統計平均徑 |
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形狀參數 |
長徑比、龐大率、球形度、表面率、比表面積、外接矩形參數等表征顆粒形狀的10多項常用數據 |
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個數統計 |
直接得到所觀測的顆粒數量 |
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樣品縮略圖 |
可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報告中 |
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表頭輸入 |
可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中 |
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