產品簡介:
EM12-PV是采用量拓科技的測量技術，針對中端精度需求的光伏太陽能電池研發和質量控制領域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。
EM12-PV用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。
EM12-PV融合多項量拓科技，采用一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡單安全。
特點：
粗糙絨面納米薄膜的測量
的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現了對粗糙表面散射為主和低反射率為特征的絨面太陽電池表面納米鍍層的檢測。
次納米量級的高靈敏度和準確度
的采樣方法、穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了高準確度和穩定性，測量絨面減反膜的厚度精度優于0.2nm。
1.6秒的快速測量
水準的儀器設計，在保證和準確度的同時，可在1.6秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求。
簡單方便安全的儀器操作
一鍵式操作設計，用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的操作需求。
應用：
EM12-PV適合于光伏領域中端精度要求的工藝研發和現場的質量控制。
EM12-PV可用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型納米膜層包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，應用領域包括晶體硅太陽電池、薄膜太陽電池等。
EM12-PV也可用于測量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜，包括膜層的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系數k。也可用于測量塊狀材料（包括，液體、金屬、半導體、介質等）在632.8nm下的折射率n和消光系數k。應用領域包括半導體、微電子、平板顯示等。
技術指標：
項目
技術指標
儀器型號
莆田光譜橢偏儀,橢偏儀,與維修中的應用多種型號圖片
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| 型號:JX200089EX3 自動橢圓偏振測厚儀 |
型號:JX200098EM12 精致型多入射角激光橢偏儀 |
型號:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） |
莆田光譜橢偏儀,橢偏儀,與維修中的應用
熱門搜索:
EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀 EX3 自動橢圓偏振測厚儀 EX2自動橢圓偏振測厚儀 EM12 精致型多入射角激光橢偏儀 ETSys-Map-PV在線薄膜測量系統 EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
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莆田光譜橢偏儀,橢偏儀,與維修中的應用多種型號內容
型號:JX200089EX3 自動橢圓偏振測厚儀
EX3自動橢圓偏振
測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型
教學儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導體
激光器作為
光源，穩定性好，體積更小。
EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。
EX3儀器還可用于同時測
量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。
特點:
經典消光法橢偏測量原理
儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。
方便安全的樣品水平放置方式
采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。
緊湊的一體化結構
集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用。
高穩定性
光源
采用半導體
激光器作為探測光的
光源，穩定性高，噪聲低。
豐富實用的樣品測量功能
可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等。
便捷的自動化操作
儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數據分析、儀器校準等操作。
安全的用戶使用權限管理
軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用。
可擴展的儀器功能
利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。
應用領域:
EX3適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測
量塊狀材料的折射率n和消光系數k。
EX3可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽
電池、
光學薄膜、生命科學、化學、電化學、
磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。
技術指標:
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項目
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技術指標
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儀器型號
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EX3
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測量方式
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自動測量
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樣品放置方式
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水平放置
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光源
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半導體激光器，波長635nm
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膜厚測量重復性*
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0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層)
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膜厚范圍
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透明薄膜：1-4000nm
吸收薄膜則與材料性質相關
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折射率范圍
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1.3 – 10
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探測光束直徑
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Φ2-3mm
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入射角度
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30°-90°，精度0.05°
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偏振器方位角讀數范圍
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0-360°
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偏振器步進角
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0.014°
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樣品方位調整
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Z軸高度調節：16mm
二維俯仰調節：±4°
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允許樣品尺寸
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圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達120mm x 160mm
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配套軟件
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* 用戶權限設置
* 多種測量模式選擇
* 多個測量項目選擇
* 方便的數據分析、計算、輸入輸出
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外形尺寸
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（入射角度70°時）450*375*260mm
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儀器重量（凈重）
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15Kg
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注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續測量30次的標準差。
性能保證:
ISO9001質量體系下的儀器質量保證
專業的儀器使用培訓
專業的橢偏測量原理課程
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光譜橢偏儀
來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200089.html
EX3 自動橢圓偏振測厚儀
型號:JX200098EM12 精致型多入射角激光橢偏儀
EM12是采用量拓科技的測量技術，針對中端精度需求的研發和質量控制領域推出的精致型多入射角激光
橢偏儀。
EM12可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測
量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的厚度測量。
EM12采用了量拓科技多項。
特點：
次納米量級的高靈敏度
的采樣方法、高穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了能夠測量薄納米薄膜，膜厚精度可達到0.2nm。
1.6秒的快速測量
水準的儀器設計，在保證精度和準確度的同時，可在1.6秒內快速完成一次測量，可對納米膜層生長過程進行測量。
簡單方便的儀器操作
用戶只需一個
按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進行測量設置。
應用：
EM12適合于中端精度要求的科研和工業環境中的新品研發或質量控制。
EM12可用于測量單層或多層納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數k；可用于同時測
量塊狀材料的折射率n和消光系數k；可用于實時測量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數k。
EM12可應用的納米薄膜領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽
電池、
光學薄膜、生命科學、化學、電化學、
磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。可應用的塊狀材料領域包括：固體（金屬、半導體、介質等），或液體（純凈物或混合物）。
技術指標:
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項目
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技術指標
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儀器型號
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EM12
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激光波長
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632.8nm (He-Ne Laser)
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膜厚測量重復性（1）
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0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
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折射率測量重復性（1）
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2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
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單次測量時間
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與測量設置相關，典型1.6s
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的膜層范圍
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透明薄膜可達4000nm
吸收薄膜則與材料性質相關
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光學結構
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PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有高的準確度）
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激光光束直徑
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1-2mm
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入射角度
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40°-90°可手動調節，步進5°
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樣品方位調整
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Z軸高度調節：±6.5mm
二維俯仰調節：±4°
樣品對準：光學自準直和顯微對準系統
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樣品臺尺寸
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平面樣品直徑可達Φ170mm
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外形尺寸
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887 x 332 x 552mm (入射角為90º時)
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儀器重量（凈重）
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25Kg
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選配件
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水平XY軸調節平移臺
真空吸附泵
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軟件
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ETEM軟件：
l 中英文界面可選；
l 多個預設項目供快捷操作使用；
l 單角度測量/多角度測量操作和數據擬合；
l 方便的數據顯示、編輯和輸出
l 豐富的模型和材料數據庫支持
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注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續測量25次所計算的標準差。
性能保證:
- 穩定性的He-Ne激光光源、的采樣方法，保證了高穩定性和高準確度
- 的光學自準直系統，保證了快速、的樣品方位對準
- 穩定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合的采樣技術，保證了快速、穩定測量
- 分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量
- 一體化集成式的儀器結構設計，使得系統操作簡單、整體穩定性提高，并節省空間
- 一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數據庫，方便用戶使用
- 可選配件：
NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片
NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片
VP01真空吸附泵
VP02真空吸附泵
樣品池
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光譜橢偏儀
來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200098.html
EM12 精致型多入射角激光橢偏儀
型號:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
EM12-PV是采用量拓科技的測量技術，針對中端精度需求的光伏太陽能
電池研發和質量控制領域推出的精致型多入射角激光
橢偏儀。
EM12-PV用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽
電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。
EM12-PV融合多項量拓科技，采用一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽
電池樣品。一鍵式多
線程操作軟件，使得儀器操作簡單安全。
特點：
粗糙絨面納米薄膜的測量
的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現了對粗糙表面散射為主和低反射率為特征的絨面太陽
電池表面納米鍍層的檢測。
次納米量級的高靈敏度和準確度
的采樣方法、穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了高準確度和穩定性，測量絨面減反膜的厚度精度優于0.2nm。
1.6秒的快速測量
水準的儀器設計，在保證和準確度的同時，可在1.6秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求。
簡單方便安全的儀器操作
一鍵式操作設計，用戶只需一個
按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的操作需求。
應用：
EM12-PV適合于光伏領域中端精度要求的工藝研發和現場的質量控制。
EM12-PV可用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽
電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型納米膜層包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，應用領域包括晶體硅太陽
電池、薄膜太陽
電池等。
EM12-PV也可用于測量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜，包括膜層的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系數k。也可用于測
量塊狀材料（包括，液體、金屬、半導體、介質等）在632.8nm下的折射率n和消光系數k。應用領域包括半導體、微電子、平板顯示等。
技術指標：
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項目
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技術指標
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儀器型號
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EM12-PV
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激光波長
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632.8nm (He-Ne Laser)
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膜厚測量重復性（1）
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0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
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0.2nm (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
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折射率精度（1）
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2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
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2x10-3 (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
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單次測量時間
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與測量設置相關，典型1.6s
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光學結構
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PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有高的準確度）
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激光光束直徑
|
1-2mm
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入射角度
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40°-90°可手動調節，步進5°
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樣品方位調整
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一體化樣品臺輕松變換可測量單晶或多晶樣品
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可測量156*156mm電池樣品上每個點
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Z軸高度調節：±6.5mm
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二維俯仰調節：±4°
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樣品對準：光學自準直顯微和望遠對準系統
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樣品臺尺寸
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平面樣品直徑可達Φ170mm
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兼容125*125mm和156*156mm的太陽能電池樣品
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的膜層厚度范圍
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粗糙表面樣品：與絨面物理結構及材料性質相關
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光滑平面樣品：透明薄膜可達4um，吸收薄膜與材料性質相關
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外形尺寸
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887 x 332 x 552mm (入射角為90º時)
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儀器重量（凈重）
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25Kg
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選配件
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水平XY軸調節平移臺
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真空吸附泵
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軟件
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ETEM軟件：
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-
中英文界面可選
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太陽能電池樣品預設項目供快捷操作使用
-
單角度測量/多角度測量操作和數據擬合
-
方便的數據顯示、編輯和輸出
-
豐富的模型和材料數據庫支持
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注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續測量25次所計算的標準差。
性能保證：
穩定的He-Ne激光
光源、的采樣方法以及低噪聲探測技術，保證了穩定性和準確度
一體化樣品臺技術，兼容單晶和多晶硅太陽
電池樣品,輕松變換可實現準確測量
的
光學自準直顯微和望遠系統，保證了快速、的樣品方位對準
樣品調節技術，有效提高樣品定位精度，并節省操作時間
光電增強技術和獨特的噪聲處理方法，顯著降低現場噪聲的影響
一體化集成式儀器整體設計，保證了系統穩定性，并節省空間
分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量
一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數據庫，方便用戶使用
可選
配件：
NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片
NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片
VP01真空吸附
泵
VP02 真空吸附
泵 欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光譜橢偏儀
來源網址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200094.html
EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
【溫馨提示】
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[河北德科機械科技有限公司]——是集科研、開發、制造、經營于一體，的工程試驗儀器專業制造實體。公司主要經營砼混凝土儀器,水泥試驗儀器,砂漿試驗儀器,泥漿試驗儀器,土工試驗儀器,瀝青試驗儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗儀器,壓力試驗機養護室儀器及實驗室耗材等上百種產品。
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【關于發貨】
我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業務已經覆蓋，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。聯系方式:李經理
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