德國蔡司zeiss聚焦離子束掃描電子顯微鏡的探測能力低電壓電子束分辨率提升高達30%。無論是二維表面成像或三維重構，蔡司Crossbeam的掃描電子束均可提供優異的表現。借助于Tandem decel在樣品上施加電壓，Gemini光學系統可以在1kV下獲得高達1.4nm的分辨率，從而對任意樣品均可獲得的圖像。可通過一系列的探測器表征您的

藝橋科技（香港）有限公司(簡稱藝橋科技)，成立于2017年，是一家提供優質進口檢測設備的供應商,擁有專業、出色的工程師團隊，配備了完善的廠房倉庫。客戶群體集中在LED封裝行業，業務主要包括LED LIGHTING BAR生產線檢測解決方案、半導體行業DB&WB檢測設備及解決方案、實驗室相關檢測設備、新能源檢測、光學玻璃檢查解決方案等。

2019年起，與TTVISION合作研發自動光學檢測設備，在研發項目技術領域取得豐碩成果。同時公司戰略性調整，開發客戶以鋰電池行業、半導體行業、高校與研究單位為主，半年間開發有廣東氣派、華燦光電、利亞德集團、德賽電池、藍微科技等一批高質量客戶。

公司擁有一批多年工作經驗的工作者，富有進取心和敬業精神，不僅能為客戶提供高質量的產品，并能為客戶提供優質、高效的售后解決方案。以專業的服務和優良的品質，深受廣大用戶的好評。

香港藝橋現已經成為創維、TCL金能、TCL多媒體、華燦光電、利亞德、氣派科技、瑞豐光電、國星光電、兆馳股份、冠捷科技、木林森股份、木林森電子、木林森光電（吉安、新余）、鴻利智匯、聚飛光電、穗晶光電、晶科電子、虹源光電、帝晶光電等多家企業的長期穩定供應商，且大部分為上市公司，業內享有良好的商業信譽。

德國蔡司zeiss聚焦離子束掃描電子顯微鏡
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提高您的FIB樣品的測試加工效率

通過FIB智能的刻蝕策略，其材料移除速率可提升高達40%。

在鎵離子類型的FIB-SEM中采用了大離子束束流。使用高達100nA的離子束束流可顯著節約時間，同時具有的FIB束斑形狀，從而獲得高分辨率。得益于智能的FIB掃描策略，移除材料時且。可自動批量制取樣品，例如截面，TEM樣品薄片或任何使用者自定義的圖形。

在FIB-SEM分析中體驗優異的三維空間分辨率

體驗整合的三維能譜分析所帶來的

可使用蔡司Atlas
5軟件擴展您的Crossbeam，它是一個針對快速而準確的三維斷層成像的軟硬件包。使用Atlas 5中集成的三維分析模塊可在三維斷層成像的過程中進行能譜分析蔡司Crossbeam將Gemini電子束鏡筒和定制的聚焦離子束鏡筒結合起來，從而獲得與速度。因此FIB-SEM的斷層成像可獲得優異的三維空間分辨率和各向同性的三維體素尺寸。使用Inlens EsB探測器，探測深度小于3nm，可獲得表面敏感的、材料成分襯度圖像。

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