DC參數(shù)測試國產(chǎn)品牌數(shù)字源表認準普賽斯儀表，武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產(chǎn)品已經(jīng)過了市場的考驗，市場應用率高；SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，直流更大、精度更高、準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，PX00B系列蕞大脈沖輸出電流達30A，蕞大

武漢普賽斯儀表自主研發(fā)的臺式數(shù)字源表、插卡式源表、窄脈沖電流源、VCSEL測試系統(tǒng)等，填補國產(chǎn)空白。主要應用于半導體器件的測試工藝，為客戶提供模塊化硬件、高效驅動程序和高效算法軟件組合，幫助用戶構建自定解決方案。為半導體封測廠家提供相關測試儀表、測試平臺，以及相關技術服務，滿足行業(yè)對測試效率、測試精度，以及低成本的挑戰(zhàn)。

武漢普賽斯將以服務客戶為中心，追求可持續(xù)發(fā)展，精益求精，堅持不懈，努力將自身打造成行業(yè)標桿。

普賽斯儀表www.whpssins.com

武漢普賽斯電子技術有限公司是一家高科技企業(yè)，專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測和測試方案和自動化測試設備。產(chǎn)品覆蓋CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線。客戶包括：華為、海思、中興、光迅、海信、正源光子、旭創(chuàng)等，公司旨在為光電器件生產(chǎn)企業(yè)提供服務，針對產(chǎn)線生產(chǎn)的痛點問題，模擬現(xiàn)實應用環(huán)境，進行半導體光器件性能指標生產(chǎn)監(jiān)測和測試，實現(xiàn)產(chǎn)品生產(chǎn)過程實時可監(jiān)控、可追溯。具有綜合性、完備性、穩(wěn)定性、半自動化或自動化等特點，從而提高用戶產(chǎn)線產(chǎn)品的生產(chǎn)效率、可靠性、穩(wěn)定性、一致性。

 

芯片測試作為芯片設計、生產(chǎn)、封裝、測試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過對待測器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測，區(qū)別缺陷、驗證器件是否符合設計目標、分離器件好壞的過程。其中直流參數(shù)測試是檢驗芯片電性能的重要手段之一，常用的測試方法是FIMV（加電流測電壓）及FVMI（加電壓測電流）。
傳統(tǒng)的芯片電性能測試需要數(shù)臺儀表完成，如電壓源、電流源、萬用表等，然而由數(shù)臺儀表組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間，而且使用單一功能的儀表和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺陷，無法滿足高效率測試的需求。
實施芯片電性能測試的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)，數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負載，支持四象限功能，可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案。DC參數(shù)測試國產(chǎn)品牌數(shù)字源表就找普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

此外，由于芯片的規(guī)模和種類迅速增加，很多通用型測試設備雖然能夠覆蓋多種被測對象的測試需求，但受接口容量和測試軟件運行模式的限制，無法同時對多個被測器件（DUT）進行測試，因此規(guī)模化的測試效率極低。特別是在生產(chǎn)和老化測試時，往往要求在同一時間內(nèi)完成對多個DUT的測試，或者在單個DUT上異步或者同步地運行多個測試任務。

基于普賽斯CS系列多通道插卡式數(shù)字源表搭建的測試平臺，可進行多路供電及電參數(shù)的并行測試，高效、精確地對芯片進行電性能測試和測試數(shù)據(jù)的自動化處理。主機采用10插卡/3插卡結構，背板總線帶寬高達3Gbps，支持16路觸發(fā)總線，滿足多卡設備高速率通信需求；匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強、多設備組合效率高等特點，最高可擴展至40通道。

使用普賽斯數(shù)字源表進行芯片的開短路測試(Open/Short  Test)、漏電流測試（Leakage  Test）以及DC參數(shù)測試（DC ParametersTest）。

開短路測試（Open-Short  Test，也稱連續(xù)性或接觸測試），用于驗證測試系統(tǒng)與器件所有引腳的電接觸性，測試的過程是借用對地保護二極管進行的，測試連接電路如下所示：

漏電流測試，又稱為Leakage  Test，漏電流測試的目的主要是檢驗輸入Pin腳以及高阻狀態(tài)下的輸出Pin腳的阻抗是否夠高，測試連接電路如下所示：

DC參數(shù)的測試，一般都是Force電流測試電壓或者Force電壓測試電流，主要是測試阻抗性。一般各種DC參數(shù)都會在Datasheet里面標明，測試的主要目的是確保芯片的DC參數(shù)值符合規(guī)范：

DC參數(shù)測試國產(chǎn)品牌數(shù)字源表認準普賽斯儀表，普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富

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