產品簡介
美國Sinton WCT-120少子壽命測試儀采用了準穩定態光電導(QSSPC)測量方法和分析技術。
公司簡介
公司主要是美國Sinton公司的中國總代理，光伏半導體測試儀器 WCT-120少子壽命測試儀
檢測原始硅片的性能
測試過程硅片的重金屬污染狀況
評價表面鈍化和發射極擴散摻雜的好壞 幫助光伏研究人員加有效的研發
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產品說明
美國Sinton WCT-120少子壽命測試儀器采用了獨特的測量和分析技術，包括類似平穩狀態photoconductance (QSSPC)測量方法。可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應表面復合效應等缺陷情況。WCT一個高度被看待的研究和過程工具。QSSPC終身測量也產生含蓄的打開電路電壓(對照明)曲線，與最后的I-V曲線是可比較的在一個太陽能電池過程的每個階段。
其它應用：
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檢測原始硅片的性能
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測試過程硅片的重金屬污染狀況
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評價表面鈍化和發射極擴散摻雜的好壞
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用得到的類似IV的開壓曲線來評價生產過程中由生產環節造成的漏電。
主要特點：
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只要輕輕一點就能實現硅片的關鍵性能測試，包括表面電阻，少子壽命，陷阱密度，發射極飽和電流密度和隱含電壓。
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測量原理：QSSPC（準穩態光電導）；
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少子壽命測量范圍：100 ns-10 ms；
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測試模式：QSSPC，瞬態，壽命歸一化分析；
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電阻率測量范圍：3–600 (undoped) Ohms/sq.；
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注入范圍：1013-1016cm-3；
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感測器范圍：直徑40-mm；
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測量樣品規格：標準直徑: 40–210 mm （或更小尺寸）；
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硅片厚度范圍：10–2000 μm；
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外界環境溫度：20°C–25°C；
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功率要求：測試儀： 40 W ， 電腦控制器：200W ，光源：60W；
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通用電源電壓：100–240 VAC 50/60 Hz；
本頁產品地址：http://www.blueally.cn/sell/show-9144280.html
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